Отечественные ученые разработали детекторы, распознающие мельчайшие дефекты
Новые детекторы со сверхчувствительностью разработали специалисты молодежной лаборатории «Микроэлектроника мультиспектральной квантовой интроскопии» Томского государственного университета. Такие детекторы особенно будут востребованы для неразрушающего контроля изделий из материалов, которые сложно диагностировать стандартными способами. Это могут быть, к примеру, волокнистые полимерные композиты. При помощи мультиспектральных дефектов можно анализировать строение и фазовый состав малоконтрастных объектов. Благодаря этому качество контроля продукции на отечественных предприятиях станет выше.
Проводимые исследования поддержал нацпроект «Наука и университеты». В рамках этих исследований ученые университета создали рентгеновские детекторы, которые могут распознавать мельчайшие дефекты, которые недоступны для диагностирования другими способами. Детекторы основаны на многоэлементных сенсорах из арсенида галлия, компенсированного хромом (HR GaAs:Cr). Были разработаны алгоритмы, чтобы строить цифровые изображения и собирать лабораторные образцы детекторов на базе центра «Перспективные технологии в микроэлектронике» ТГУ.
По словам Павла Космачева, ученого ТГУ и ИФПМ СО РАН, основные функции детекторов заключаются в способности регистрировать единичные частицы и кванты в каждой элементарной ячейке матричного детектора, а также различать материалы по атомному числу. Метод уже протестировали на полимерных композитах успешно. Подобрав нужный из представленных на выбор режимов, можно работать и с другими материалами. Немаловажно и то, что детекторы имеют высокую радиационную устойчивость.
Источник https://news.tsu.ru/news/radiofiziki-tgu-sozdali-detektory-sposobnye-videt-samye-melkie-defekty/.
